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應力篩選試驗箱
簡要描述：應力篩選試驗箱對不同電子構(gòu)件，在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環(huán)境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。
所屬分類：應力篩選試驗箱
更新時間：2024-05-21
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
| 品牌 | SETH/賽思 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
應力篩選試驗箱對不同電子構(gòu)件，在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環(huán)境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)
應力篩選試驗箱特點：
1、可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能；
2、可執(zhí)行慢速溫度循環(huán)[3～5℃/min]符合IEC60068-2、應力篩選ESS[5～15℃/min]符合JESD22、快速溫變[15～30℃/min](40℃/min)、冷熱沖擊四種不同設備的溫變試驗Laboratory Class；
3、滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求；
4、待測品自動負載調(diào)整免手動設定預冷預熱，可依據(jù)待測品負載量系統(tǒng)自動調(diào)整。
5、精靈快捷鍵 人性化快速進入選單高低溫常溫沖擊 ；
6、超低除霜次數(shù) 高低溫常溫沖擊(3 Zoon)100Cycle免除霜，縮短試驗時間與能耗。
7、賽思采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現(xiàn)低溫節(jié)能運行；
8、通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能；
9、感測器放置測試區(qū)出（回）風口賽思設計符合實驗有效性；
10、機臺多處報警監(jiān)測，配置無線遠程報警功能；
產(chǎn)品&規(guī)范 | 廠商名稱 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán)時間 | 備注 |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90電子產(chǎn)品應力篩選 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min | —— |
MIL-344A-4-16電子設備環(huán)境應力篩選 | 設備或系統(tǒng) | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | —— | —— |
MIL-2164A-19電子設備環(huán)境應力篩選方法 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | —— | 駐留時間為內(nèi)部達到溫度10℃時 |
NABMAT-9492美軍制造篩選 | 設備或系統(tǒng) | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | —— | 駐留時間為內(nèi)部達到溫度5℃時 |
GJB/Z34-5.1.6電子產(chǎn)品定量環(huán)境應力篩選指南 | 組件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | —— | 達到溫度穩(wěn)定的時間 |
GJB/Z34-5.1.6電子產(chǎn)品定量環(huán)境應力篩選指南 | 設備或系統(tǒng) | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | —— | 達到溫度穩(wěn)定的時間 |
筆記本電腦 | 主板廠商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min | —— | —— | —— |
技術規(guī)格：
SR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min] | 30℃/min→ | 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗 |
28℃/min→ | LED汽車照明燈 | |
25℃/min→ | PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應 | |
24℃/min→ | 光纖連接頭 | |
20℃/min→ | IPC－9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命 | |
17℃/min→ | MOTO | |
15℃/min→ | IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境) | |
11℃/min→ | 無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A | |
10℃/min→ | 通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試 | |
5℃/min→ | 錫須溫度循環(huán)試驗 |
型號
|
SER-A
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SER-B
|
SER-C
|
SER-D
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內(nèi)箱尺寸
|
40×35×35
|
50×50×40
|
60×50×50
|
70×60×60
|
外箱尺寸
|
140×165×165
|
150×200×175
|
160×225×185
|
170×260×193
|
預冷、預熱范圍
|
-00.00℃～-75.00℃/+60.00℃～+200.00℃
| |||
應力沖擊范圍
|
-10.00℃～-65.00℃/+60.00℃～+150.00℃
| |||
時間設定范圍
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0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
| |||
分辨率
|
0.01℃/min
| |||
溫度均勻度
|
±3.00℃以內(nèi)（under℃3.00℃）
| |||
溫度應力變化范圍 |
+5℃～+30℃/min(+40℃)
| |||
沖擊試驗溫度
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-65℃～+150℃ ±2.00℃以內(nèi)(under ±2.00℃)
| |||
三箱沖擊溫度范圍
|
-55℃～+150℃ ±2.00℃以內(nèi)(under ±2.00℃) | |||
地址：廣東省東莞市常平鎮(zhèn)九江水石路街2號1號樓
郵箱：flora187@126.com
傳真：0769-82863487
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